个人简介： |
刘勇，男，1976年12月出生，江西宜春人，博士，教授，硕士生导师。2007年7月获上海理工大学光学工程专业工学博士，2010年7月至2012年11月在浙江大学现代光学仪器国家重点实验室从事博士后工作，2013年9月至今在云鼎国际4118登录从事教学和科研工作。
研究领域：
超分辨显微成像技术、光学显微成像测量技术、无损检测技术。 教学、科研简介： |
主要承担《工程光学》、《光电显示技术》、《光电子技术》、《光电检测技术》等光电信息类课程的本科教学工作。目前，参与国家自然科学基金（国家重大科研仪器研制项目）1项，主持大恒新纪元科技股份有限公司等横向项目3项，与浙江大学、香港中文大学、布朗大学、之江实验室、宁波永新光学股份有限公司、大恒新纪元科技股份有限公司上海中心等研究团队有合作关系。近几年，先后在Opt. Communi.、J. Opt.等国内外学术期刊发表SCI/EI检索论文10多篇，授权国家发明专利3项。 主要论文： [1]Y. Liu, X. N. Wang, S. C. Liu, C. F. Kuang, Fluorescence emission difference microscopy by superoscillation excitation, Journal of Microscopy, 2019,274(3):132-138. [2] Y. Liu, Z.Zhang, R.Cao, C.Kuang, Tightly focused field modulated by spiral phase with an off-axis singularity, Applied Physics B, 2018, 124: 157. [3] Y. Liu, Z. Zhang, C. li,D. Liu, C.Kuang, Rotating light fields of an azimuthally polarized light beam generated by two-belt spiral phase modulation, Journal of Modern Optics, 2018, 65(20): 2295-2300. [4] Y. Liu, C. Kuang, X. Liu, The Use of Azimuthally Polarized Sinh-Gauss Beam in STED Microscopy,Journal of Optics,2015, 17(4):045609-045609. 授权专利： [1] 一种光学元件亚表面缺陷检测方法及检测系统（发明专利: ZL20151001502.4） [2] 一种基于光纤阵列并行探测的光学相干层析系统及方法（发明专利: ZL201811623750.9） |